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      基于高密度PCB的針床測試技術

        面對高密度PCB,針床測試技術也在不斷發展改進,主要體現在針床的密度提高,夾具設計制造技術的創新和優化,輔助測試的引入,采用數據優化技術,測試技術(開關卡)技術的完善。
        (1)針床密度提高。
        一般的針床探針的中心距為2540ym,稱單密度針床。隨著測試點數的增加和測試密度的提高,已有許多廠家推出雙密度針床,探針的中心距為17781im?,F在,也有廠家在研制四密度測試設備,雖然在一定程度上可以解決測試點數問題,但精度的問題依然存在。
        (2)夾具設計制造技術的革新。
        作為測試精度的主要影響因素,夾具的設計制造極為關鍵。在許多成功地進行了高密度測試的針床測試設備中.夾具設計多都有獨到之處。例如,ECT的夾具設計軟件,仔細考慮了測試探針的傾斜度、摩擦力等問題,使制作出的夾具與探針中心正對測試點,保證了精度與設計一致,在探針較少的區域,夾具在X.Y,和Z三個方向受力均衡,不產生彎曲變形而造成偏差,自動對準系統還可以檢測和補償定位孔與外層圖形間的偏差,在夾具材料的選擇上,使用模塊化、受溫濕度影響小的材料,確保證尺寸精確、穩定。
        (3)導電橡膠模塊的引入。
        有些針床測試設備中,對于某些極為精細的部分,如TAB,倒裝芯片,yBGA或QFP等,測試點中心距在O.lmm左右,用探針測試定位困難。采用導電橡膠模塊進行局部測試,可以克服針床測試的不足,這個模塊通過氣動導管與夾具相連,由相應的夾具設計軟件自動控制定位,若多個區域需要用到這個模塊,模塊可多次采用。但導電橡膠模塊將所覆蓋區域的所有測試點短連,被測器件內部的短路無法測出,僅用于測試被測區域與外界的連通性,若要測試內部短路,必須將這些網選出,采用其他的方法(如移動探針)測試。
        (4)開關卡技術的改進。
        為適應測試準確性的要求,開關卡要求能耐高壓,在“關”的狀態下無泄漏,在“開”的狀態下電阻能得到補償,保證測試準確牲,開關卡本身采用SMT封裝,占用體積小,并有ESD(靜電放電保護)。
        針床測試技術由于本身原理及方法限制,雖然面臨嚴峻的技術挑戰,但某些方面(如效率等)仍然具有其他方法所沒有的優勢,加上夾具技術的改進和新技術的配合使用,它在測試領域還具有較強的生命力。


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